Ikeda Lab.

Other

その他発表

  • K. Asada, "Future opening Semiconductor Technology-Number of VLSI design reserchers in Universities becomes 4 times in 6 yers, IP reuse enbiromentation," 未来を切り拓く半導体技術 日経マイクロデバイス特別編集版 Nikkei Micro Device, Special Ed., pp。7, Mar. 2002,
  • K. Asada, (in Japanese) "日本半導体産業の復権 2010年までの半導体技術展望 「LSI設計力の高度化」," 電波新聞 (電波新聞社 Tel3445-8715), 2001.1.17, Jan. 2001,
  • K. Asada, H. Ochi, M. Ikeda, and K. Kobayashi, "Design and Fabrication of Digital LSI," 培風館, 全体141ページ, Jun. 2000,
  • K. Asada, (in Japanese) "VSACへの期待," (社)日本電子機械工業会 システムLSI開発支援センター(VSAC), 1999,
  • S. Suzuki, M. Fujishima, M. Tsuchiya, and K. Asada, (in Japanese) "学部3年後期実験におけるCMOSゲートアレイの作製," 東京大学工学部・工学系研究科紀要, A-34、pp.96-97, 1996,
  • 鈴木真一, 藤島 実, 土屋 昌弘, and 浅田 邦博, (in Japanese) "学部3年後期実験におけるCMOSゲートアレイの作製," 東京大学工学部・工学系研究科紀要, A-34、pp.96-97, 1996,
  • H. Zhang and K. Asada, "A General and Efficient Mask Pattern Generator For Non-Series-parallel CMOS Transistor Network in "Synthesis for control dominated circuits"," Edited by G. Saucier, Elsevier Science Publishers BV., 1993,
  • 浅田 邦博, 鈴木 真一, 戴 志堅, 趙 慶録, and 藤島 実, (in Japanese) "MOSES MOS集積回路モジュール設計システム," 東京大学出版会, 1991,
  • 浅田 邦博, 藤島 実, 菅野 卓雄, 大村, and 泉, (in Japanese) "極薄膜超微細化MOSFET/SOIのモデル化と動作解析," 東京大学工学部総合試験所年報, 50巻,pp.73-77, 1991,
  • 菅野 卓雄, 浅田 邦博, and 福岡 崇之, (in Japanese) "光励起電子放出によるSio2中の深い捕獲中心準位の測定," 東京大学工学部総合試験所年報, 48巻,pp.103-109, 1989,
  • 菅野 卓雄, 浅田 邦博, 羽鳥 文敏, and 三木 浩史, (in Japanese) "SIMOX MOSFETにおける短チャネル効果," 東京大学工学部総合試験所年報, 48巻,pp.95-102, 1989,
  • 浅田 邦博 and 他, (in Japanese) "プロセス・デバイス・シミュレーション技術," 産業図書, 1988,
  • 戴 志堅 and 浅田 邦博, (in Japanese) "教育用会話型LSIレイアウト設計システムの開発," 東京大学工学部紀要(A), 25巻,34-35, 1987,
  • 野沢 成禎, 浅田 邦博, and 菅野 卓雄, (in Japanese) "Si薄膜の評価技術(2)," 東京大学工学部総合試験所年報, 46巻,pp.83-87, 1987,
  • 菅野 卓雄 and 浅田 邦博, (in Japanese) "SiO2中の捕獲中心の測定," 東京大学工学部総合試験所年報, 45巻,pp.83-88, 1986,
  • 野沢 成禎, 浅田 邦博, and 菅野 卓雄, (in Japanese) "Si薄膜の評価技術," 東京大学工学部総合試験所年報, 45巻,pp.77-81, 1986,
  • 浅田 邦博 and 他, (in Japanese) "VLSIの設計Ⅰ," 岩波, 1985,
  • 浅田 邦博 and 他, (in Japanese) "VLSIの設計II," 岩波, 1985,
  • 浅田 邦博 and 他, (in Japanese) "VLSIシステム設計 サブロー・ムロガ著," ワイリージャパン, 1984,
  • 浅田 邦博, 森田 真司, and 菅野 卓雄, (in Japanese) "MOS集積回路用セルレイアウトの最適化手法," 東京大学工学部総合試験所年報, 42巻,p.59, 1983,
  • 菅野 卓雄, 浅田 邦博, and 中野 義昭, (in Japanese) "反応性イオンエッチングプラズマ中のイオン質量分析," 東京大学工学部総合試験所年報, 42巻,p.81, 1983,
  • 菅野 卓雄, 浅田 邦博, and 葉 清発, (in Japanese) "ビーム・リソグラフィにより導入されるSiO2中の中性トラップ," 東京大学工学部総合試験所年報, Vol.41,p.111, 1982,
  • 菅野 卓雄, 浅田 邦博, and 松本 比呂志, (in Japanese) "SiF4ガスを用いたリアクティブ・イオン・エッチング," 東京大学工学部総合試験所年報, Vol.41,p.105, 1982,
  • 菅野 卓雄 and 浅田 邦博, (in Japanese) "ディジタル化自動DLTS測定装置の試作," 東京大学工学部総合試験所年報, 40巻,p.83, 1981,
  • 菅野 卓雄 and 浅田 邦博, "Introduction to VLSI Systems," 培風館, 1981,
  • 浅田 邦博, (in Japanese) "計算機複合体における故障診断修復方式に関する研究," , 1980,